| オートパノシフトC. Autopano-Sift-C - SIFT機能検出の実装。 |
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オートパノシフトC. 説明
Autopano-Sift-C - SIFT機能検出の実装。 SIFT特徴検知アルゴリズムは、ブリティッシュコロンビア大学でDavid Loweによって発明され、公開されてきました。それはさらにそのような点ごとに非常に異なる情報を抽出し、その画像に対するいくつかの修正に点不変を特徴付けることを可能にする。それは、コントラスト/明るさの変化、回転、スケーリング、および他の種類の変換に部分的に不変されているのは不変です。アルゴリズムは、画像マッチング、オブジェクト識別、および他のコンピュータビジョン関連アルゴリズムのための入力データを作成するために柔軟に使用することができます。自動パノラマ創出のためのSFIFTアルゴリズムの使用は、マシューブラウンおよびデイビッドローエによって開発されています。このリリースの新機能:・このリリースには、多くのバグ修正とスピードの向上が含まれており、コンフォーマルスペースでの機能識別のサポートが含まれています。
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